CRISTAUX T.P.E.

diffraction des rayons X


 


 

IV-DIFFRACTION DES RAYONS X

IVA - Production des rayons X :
IVB - La diffraction des rayons X :

IVA - Production des rayons X :

             L'émission des rayons X est du au choc d'un faisceau d'électrons rapides sur un obstacle matériel.
            
Ce faisceau d'électrons est également obtenu dans un tube à émission thermoélectrique. Ce tube est formé d'un ballon de verre ou d'acier, portant deux tubulures diamétralement opposées sur lesquelles sont soudées deux électrodes et où règne un vide aussi poussé que possible (10-6 mm de mercure) afin de ne pas ralentir les électrons.


              La cathode C est constituée par un filament spiralé de tungstène porté à incandescence par un courant à basse tension, dont l'intensité est réglée par le potentiomètre. A haute température une évaporation électronique se produit : le métal émet des électrons, et d'autant plus que la température est élevée. L'anode A est une pièce massive en métal taillée à 45°, dans laquelle est encastrée une pastille de tungstène ou d'un autre métal (cuivre, molybène, cobalt,…), et possédant un dispositif de refroidissement par circulation d'eau ou d'huile. Les électrons (ou rayons cathodiques) sont accélérés par une forte tension (50 à 1000 kV) appliquée entre les électrodes se dirigent sur la pastille qui émet un rayonnement X. Mais la presque totalité de l'énergie cinétique des électrons est transformée en chaleur. On réalise une source de rayons X très fine (foyer) en entourant la cathode d'un cylindre métallique qui repousse les électrons et les concentre.

IVB - La diffraction des rayons X :

              Les rayons X sont de même nature que la lumière, mais ils ont une longueur d'onde mile fois plus courte, soit de l'ordre de l'Angström (Å). Quand un cristal est irradié par un fin pinceau de rayons X, chacun des atomes "diffuse", c'est-à-dire qu'il est la source d'une onde de faible amplitude se propageant dans toutes les directions, ces "ondulettes" interfèrent entres elles.

               Schéma de l' "expérience de LAUE ". Un cristal fixe est irradié par un pinceau de rayons X polychromatiques ; les rayons diffractés sont enregistrés sur un film photographique normal au pinceau incident.

            La diffusion de l'ensemble des atomes du cristal est annulée dans toutes les direction, sauf dans certaines, nombreuses d'ailleurs et bien précises, où elle est beaucoup renforcée. On dit que le cristal produit des rayons diffractés. Le phénomène tient à deux causes, d'une part à la régularité du réseau d'atomes, et d'autre part, au fait que la longueur d'onde du rayonnement X est de l'ordre de grandeur des distances interatomiques.
             
Les directions des rayons diffractés sont déterminées par le réseau cristallin, et l'intensité relative des différentes diffractions par la structure du motif d'atome dans la maille. Inversement, de la direction des rayons diffractés, on peut déduire la forme de la maille et ses dimensions : c'est possible dans tout les cas et simple. Pour déterminer la position des atomes dans la maille, il faut mesurer les intensités d'un très grand nombre de diffractions : la méthode est toujours délicate et exige de longs calculs à l'ordinateur.
               Les méthodes de diffraction des rayons X ne donnent pas une image de la structure atomique, mais elles permettent de la reconstituer. Ainsi, l'observation des franges de YOUNG, qui sont un phénomène de diffraction avec la lumière visible, permettent de calculer l'intervalle entre les trous de YOUNG, et on pourrait théoriquement déterminer leur forme.
                C'est il y a environ soixante-cinq ans que M. VON LAUE et W.L. et W.H. BRAGG ont découvert le principe de la méthode. Progressivement, les appareils ont été perfectionnés, puis automatisés, la théorie a été améliorée, et enfin - et surtout - les cristallographes ont eu à leur disposition de puissants ordinateurs.
               
Exemple de détermination de la structure d'un cristal : soit un petit cristal isolé, avec des dimensions de quelques dixièmes de millimètre. On le place sur le " diffractiomètre automatique " qui donne les paramètres du réseau. Ensuite on demande à l'appareil d'enregistrer les intensités des différents rayons réfractés, ce qui exige des rotations, commandées automatiquement du cristal et du détecteur de rayons X. Avec une maille de l'ordre de 5 à 10Å il peut y avoir plusieurs milliers de diffractions.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


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